Politechnika Wrocławska
Siatki zajęć
Kursy (dzienne)
Kursy (zaoczne)
Kursy doktoranckie
Praca dyplomowa
KMEIF
Informacje
Studia I
Studia II
Staff

Kursy dzienne


Kursy magisterskie:

> EKEU602
Aplikacje procesorów sygnałowych
> ETEU607
Cyfrowe kontrolery sygnałów
> EKEU005
> ETEU609
Metody sztucznej inteligencji
> ETEU202
Metrologia optyczna 1
> ETEU601
Metrologia optyczna 2
> EKEU603
Modelowanie matematyczne i komputerowe
> EKEU604
> ETEU606
Seminarium specjalnościowe
> EKEU601
Seminarium dyplomowe
> ETEU610
> EKEU605
> ETEU622
Techniki tomograficzne
> EKEU606
Wirtualna aparatura pomiarowa
> ETEU616
Wybrane interfejsy mikrokontrolerów
> ETEU603
Zasady rozpoznawania i przetwarzania obrazów
Poniedziałek
20.08.2018r.
Imieniny
Pogoda

Gości online:2
(Zobacz listę)

Ogółem gości: 1244320
od dnia 11.05.2010

Valid XHTML 1.0 Transitional


 

© Katedra Metrologii Elektronicznej i Fotonicznej Politechniki Wrocławskiej. Wszelkie prawa zastrzeżone, 2009-2018.
KMEiF, ul. Bolesława Prusa 53/55, 50-317 Wrocław, tel. +48 71 320 62 32, fax. +48 71 321 42 77
wykonał Bartosz Majdański w ramach pracy dyplomowej pod kierunkiem prof. Janusza Mroczki